不同負載條件對序列位置內(nèi)隱學(xué)習(xí)的影響

序列反應(yīng)時任務(wù)是繼人工語法學(xué)習(xí)和復(fù)雜系統(tǒng)控制任務(wù)之后又一研究內(nèi)隱學(xué)習(xí)的重要程式,該研究采用這種程式,比較了不同負載條件對序列位置內(nèi)隱學(xué)習(xí)的影響.被試為華南師范大學(xué)本科生60名.3種負載條件分別為無負載、數(shù)字串記憶負載和反向反應(yīng)負載.結(jié)果發(fā)現(xiàn),數(shù)字記憶負載組被試與無負載組被試間內(nèi)隱學(xué)習(xí)量差異顯著,但對于不會破壞學(xué)習(xí)序列組織的反向負載組被試,其內(nèi)隱學(xué)習(xí)量與無負載組差異不顯著,卻與數(shù)字記憶負載組間差異顯著.這一結(jié)果說明序列反應(yīng)時任務(wù)程式中的內(nèi)隱學(xué)習(xí)不受加工容量的影響.

作 者： 張衛(wèi) 莫雷 許尚俠 王穗蘋   作者單位： 張衛(wèi)(華南師范大學(xué)心理系暨心理應(yīng)用研究中心,廣州,510631;北京師范大學(xué)發(fā)展心理研究所,北京,100875)

莫雷,許尚俠,王穗蘋(華南師范大學(xué)心理系暨心理應(yīng)用研究中心,廣州,510631) 

刊 名： 心理學(xué)報  ISTIC PKU CSSCI 英文刊名： ACTA PSYCHOLOGICA SINICA  年，卷(期)： 2002 34(5)  分類號： B842.3  關(guān)鍵詞： 內(nèi)隱學(xué)習(xí)   序列反應(yīng)時任務(wù)   數(shù)字記憶負載任務(wù)   反向負載任務(wù)   加工容量  

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