電離層虛高的高精度測量與分析

為了提高電離層虛高測量精度,介紹了利用電離層回波相位實(shí)現(xiàn)高精度虛高測量的方法,并以CADI(Canadian Advanced Digital Ionosonde)電離層數(shù)字測高儀為研究平臺(tái),進(jìn)行組合脈沖控制和回波相位測量分析,開展了一系列虛高測量實(shí)驗(yàn),并與傳統(tǒng)的利用回波時(shí)間延遲的虛高測量方法進(jìn)行了分析比較.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,基于回波相位的測量分析方法與回波時(shí)延測量分析方法相比,其虛高測量精度高一個(gè)量級(jí)以上,這對(duì)精確反演電離層峰下電子濃度剖面及研究電離層精細(xì)結(jié)構(gòu)具有重要意義.

作 者： 朱正平 寧百齊 萬衛(wèi)星 ZHU Zhengping NING Baiqi WAN Weixing   作者單位： 朱正平,ZHU Zhengping(中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所,北京,100029;中國科學(xué)院武漢物理與數(shù)學(xué)研究所;中國科學(xué)院研究生院)

寧百齊,萬衛(wèi)星,NING Baiqi,WAN Weixing(中國科學(xué)院地質(zhì)與地球物理研究所,北京,100029) 

刊 名： 空間科學(xué)學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2007 27(3)  分類號(hào)： P353  關(guān)鍵詞： 電離層虛高   回波相位   回波時(shí)延  

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