微電阻率成像儀數(shù)值模擬與分析

目前,很多油氣田已經(jīng)進(jìn)入開發(fā)后期,勘探開發(fā)中常常遇到復(fù)雜的地層結(jié)構(gòu)等問(wèn)題,需要高分辨率的探測(cè)儀器,而陣列測(cè)井儀器在此方面得到了很好的應(yīng)用.文章研究了用于復(fù)雜地層成像的微電阻率成像儀,在給出了成像儀電極系結(jié)構(gòu)、電阻率測(cè)量原理之后,針對(duì)該儀器的復(fù)雜激勵(lì)條件和復(fù)雜邊界條件,采用三維有限元方法,利用雙共軛梯度方法求解矩陣方程,進(jìn)行非均勻介質(zhì)中微電阻率成像儀的數(shù)值模擬.在成像儀所有的結(jié)構(gòu)參數(shù)中,幾何尺寸發(fā)生改變后,有可能影響測(cè)量結(jié)果的儀器參數(shù)包括金屬芯棒的長(zhǎng)度、絕緣棒的長(zhǎng)度、回路電極的長(zhǎng)度、極板的長(zhǎng)度和寬度.相對(duì)而言,金屬芯棒、絕緣棒和回路電極的長(zhǎng)度對(duì)探測(cè)深度的影響較小,而極板的長(zhǎng)度和寬度影響較大.最后,就這兩個(gè)儀器結(jié)構(gòu)參數(shù)對(duì)儀器探測(cè)深度的影響等問(wèn)題進(jìn)行了分析,并給出了不同幾何尺寸條件下成像儀的探測(cè)深度結(jié)果.

作 者： 陳愛(ài)新 Chen Aixin   作者單位： 北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院  刊 名： 天然氣工業(yè)  ISTIC PKU 英文刊名： NATURAL GAS INDUSTRY  年，卷(期)： 2006 26(12)  分類號(hào)： P61  關(guān)鍵詞： 非均勻介質(zhì)   電阻率   成像   數(shù)值模擬   有限元法   探測(cè)深度  

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