超細地質(zhì)標準物質(zhì)及其應用

74μm(200目)樣品粒度是當今地質(zhì)分析的一項重要技術(shù)基礎(chǔ).文中從實踐角度指出了現(xiàn)代地質(zhì)分析技術(shù)對樣品粒度的新需求,并由地質(zhì)分析樣品粒度演化的歷史說明了隨著分析技術(shù)的不斷進步,分析樣品粒度階梯性減小的趨勢.從而認為應不失時機地研制超細粒度的地質(zhì)標準物質(zhì),為研究超細樣品條件下的分析技術(shù)奠定物質(zhì)基礎(chǔ)、提供評價依據(jù).為此采用超細粉碎技術(shù)制備了一套具有超細粒度的海洋沉積物標準物質(zhì)系列;并給出了以超細樣品粉末直接壓片制樣,用X射線熒光法精確測定了海山磷塊巖中包括C,F,Cl,Br和Ⅰ在內(nèi)的主、次、痕量共32個元素的應用實例.最后討論了超細標準物質(zhì)制備及應用可能對地質(zhì)分析技術(shù)未來發(fā)展造成的影響--導致新的地質(zhì)分析技術(shù)體系的產(chǎn)生.

作 者： 王曉紅 高玉淑 王毅民   作者單位： 國家地質(zhì)實驗測試中心,北京,100037  刊 名： 自然科學進展  ISTIC PKU 英文刊名： PROGRESS IN NATURAL SCIENCE  年，卷(期)： 2006 16(3)  分類號： P5  關(guān)鍵詞： 地質(zhì)標準物質(zhì)   超細粉碎   粒度分析   X射線熒光   "綠色"分析技術(shù)  

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