疊前深度偏移及其配套技術分析

本文綜述了疊前深度偏移的發(fā)展歷程,就Kirchhoff積分法、波動方程法、共聚焦技術,概述了其中常用方法的發(fā)展歷程、優(yōu)點與不足乃至實現(xiàn)方法的關鍵技術問題.當前成像研究的熱點——保幅偏移也有所涉及.此外,還簡述了疊前深度偏移的配套技術:速度分析、基準面校正、驗證模型等.

作 者： 梁棟 唐小彪   作者單位： 成都理工大學信息工程學院  刊 名： 科技信息  英文刊名： SCIENCE & TECHNOLOGY INFORMATION  年，卷(期)： 2009 ""(24)  分類號：   關鍵詞： 疊前深度偏移   基準面校正   波動方程   速度分析  

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