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納米TiO2粉末的結(jié)構表征:X射線衍射、透射電鏡及高溫Raman光譜分析
采用沉淀-膠溶-絮凝法,以偏鈦酸為反應物,制備出銳鈦礦型納米TiO2粉末,用X射線衍射(XRD)、透射電鏡(TEM)和高溫Raman光譜對其結(jié)構進行表征.并采用高溫Raman光譜儀對所制備的納米TiO2從25~1200℃進行了原位Raman光譜研究.溫度較低時,銳鈦礦相的Raman譜峰明顯可見,由于高溫下Raman信號減弱,隨著溫度升高,Raman特征譜峰逐漸減弱以至于全部消失,僅顯示出幾個寬寬的凸起.同時,高溫Raman光譜存在明顯的溫度效應,因而導致了隨溫度升高144cm-1和196cm-1譜峰的藍移,640cm-1譜峰的紅移以及譜峰寬化.
作 者: 潘曉燕 馬學鳴 尤靜林 朱麗慧 作者單位: 潘曉燕,朱麗慧(上海大學,材料科學與工程學院,上海,200072)馬學鳴(上海大學,納米科學技術研究中心,上海,200072)
尤靜林(上海大學,鋼鐵冶金重點實驗室,上海,200072)
刊 名: 功能材料 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF FUNCTIONAL MATERIALS 年,卷(期): 2003 34(2) 分類號: O657.37 O614.41 關鍵詞: 納米TiO2 銳鈦礦相 高溫Raman光譜【納米TiO2粉末的結(jié)構表征:X射線衍射、透射電鏡及高溫Raman光譜分析】相關文章:
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