紅外鏡反射光譜的測(cè)試與解析

紅外鏡反射(infrared specular reflection,簡稱SR)光譜與被測(cè)樣品和襯底的折射指數(shù)、吸收指數(shù)以及入射角有密切關(guān)系,往往由之產(chǎn)生畸變.要從紅外鏡反射技術(shù)測(cè)得的光譜處理得到人們熟悉的吸收光譜,需要經(jīng)過較復(fù)雜的計(jì)算機(jī)數(shù)學(xué)處理.本文通過幾個(gè)比較特殊的鏡反射例子,以說明鏡反射光譜的測(cè)試和解析必須注意多種影響因素.

作 者： 廖強(qiáng)強(qiáng) 馮祖儒 周國定 聶崇實(shí)   作者單位： 廖強(qiáng)強(qiáng),周國定(上海電力學(xué)院電化學(xué)研究室,國家電力公司熱力設(shè)備腐蝕與防護(hù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海,200090)

馮祖儒,聶崇實(shí)(中國科學(xué)院上海有機(jī)化學(xué)研究所,上海,200043) 

刊 名： 分析化學(xué)  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF ANALYTICAL CHEMISTRY  年，卷(期)： 2003 31(3)  分類號(hào)： O6  關(guān)鍵詞： 紅外鏡反射   KK轉(zhuǎn)換   薄膜   折射指數(shù)  

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