波片位相延遲測量的雙λ/4波片法

在對(duì)波片延遲量的測量中常因光源起伏影響測量精度,出現(xiàn)較大的測量誤差,為了避開光源強(qiáng)度起伏的影響,提高系統(tǒng)的測量精度,減小測量誤差,用兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)λ/4波片與待測波片組合,使其滿足一定條件等效為旋光器,搭建了一套測量系統(tǒng),用角度測量替代對(duì)光強(qiáng)的直接測量.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)可有效避免光源強(qiáng)度起伏對(duì)測量結(jié)果的影響,測量精度可達(dá)0.5°.與傳統(tǒng)測量方法相比,該測量系統(tǒng)具有構(gòu)造簡單,不受光源起伏影響,以及測量精度高等特點(diǎn),是一種便捷有效的測量方法.

作 者： 王蘭 李國華 孔超 賈朋 WANG Lan LI Guo-hua KONG Chao JIA Peng   作者單位： 曲阜師范大學(xué),激光研究所,曲阜,273165  刊 名： 激光技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： LASER TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 31(6)  分類號(hào)： O432.2  關(guān)鍵詞： 激光技術(shù)   偏振光   波片   位相延遲  

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