球柵陣列倒裝焊封裝中的熱應(yīng)變值的測(cè)試

利用高溫云紋實(shí)驗(yàn)方法測(cè)試球柵陣列(BGA)封裝焊點(diǎn)的熱應(yīng)變,采用硅橡膠試件光柵復(fù)制技術(shù),使測(cè)試環(huán)境溫度提高到200℃.通過(guò)實(shí)時(shí)熱應(yīng)變測(cè)量,得到各焊點(diǎn)的熱應(yīng)變關(guān)系以及封裝材料、電路板各部分的熱應(yīng)變分布狀況,為研究集成電路封裝組件焊點(diǎn)的建模和熱疲勞破壞機(jī)理提供了可靠的實(shí)驗(yàn)依據(jù).

作 者： 李禾 傅艷軍 李仁增 嚴(yán)超華   作者單位： 南昌航空工業(yè)學(xué)院實(shí)驗(yàn)力學(xué)研究室,南昌,330034  刊 名： 半導(dǎo)體學(xué)報(bào)  ISTIC EI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS  年，卷(期)： 2002 23(6)  分類號(hào)： O348 TN307  關(guān)鍵詞： 高溫云紋   光柵   倒裝焊   熱疲勞  

【球柵陣列倒裝焊封裝中的熱應(yīng)變值的測(cè)試】相關(guān)文章：

本土化威勤球柵尺04-26

磁盤(pán)陣列·什么是磁盤(pán)陣列04-26

葉柵流場(chǎng)中的氣動(dòng)阻尼研究04-27

倒裝句之全部倒裝05-04

倒裝句之部分倒裝05-04

什么是led封裝?04-28

502膠在常溫應(yīng)變電測(cè)中的應(yīng)用04-26

CPU·什么是封裝技術(shù)04-26

顯卡·什么是顯存封裝04-26

內(nèi)存·什么是顆粒封裝04-26