液晶盒厚度的反射光譜擬合法測(cè)量

介紹了一種測(cè)量液晶盒厚度的新型光學(xué)方法--反射光譜擬合法.理論上,液晶盒的反射光譜呈正弦曲線,且曲線取極值時(shí)對(duì)應(yīng)入射光波長(zhǎng)大小值取決于所用液晶盒的厚度.反之亦然,當(dāng)?shù)弥�液晶空盒的反射光譜時(shí),可以根據(jù)曲線取極值時(shí)入射光波長(zhǎng)的值來(lái)獲得待測(cè)液晶盒的厚度.軟件用來(lái)搜索與實(shí)驗(yàn)測(cè)試數(shù)據(jù)相互吻合的液晶盒厚度.該技術(shù)以白光作為液晶盒的前端光源,且白光入射角為0°.結(jié)果表明,該方法測(cè)量范圍5～30 μm,測(cè)量重復(fù)誤差0.1 μm以下.實(shí)驗(yàn)中,光纖光譜儀用來(lái)測(cè)試反射光譜,并通過(guò)USB接口將其傳輸?shù)接?jì)算機(jī).該方法的優(yōu)點(diǎn)是它可以在0.1 s內(nèi)測(cè)試液晶盒表面任意點(diǎn)處的厚度,有較強(qiáng)的使用價(jià)值.

作 者： 康桂珍 黃子強(qiáng) KANG Gui-zhen HUANG Zi-qiang   作者單位： 電子科技大學(xué),光電信息學(xué)院,四川,成都,610054  刊 名： 液晶與顯示  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF LIQUID CRYSTALS AND DISPLAYS  年，卷(期)： 2007 22(4)  分類號(hào)： O753.2  關(guān)鍵詞： 液晶盒   反射光譜   光譜擬合   LC cell   reflecting spectrum   optimal fitting  

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