航空電子設(shè)備故障診斷技術(shù)研究綜述

隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電子設(shè)備組成的復(fù)雜化和智能化不斷提高,IC芯片制造工藝的不斷提高使得VLSI電路的集成密度增加,亦加大了電路故障測(cè)試的復(fù)雜性和困難度.本文綜述了電子電路的通用測(cè)試方法和技術(shù),并分析了局限性.詳細(xì)敘述了剛剛發(fā)展起來(lái)的基于知識(shí)的故障診斷方法,它的應(yīng)用使對(duì)于一個(gè)較復(fù)雜的電子設(shè)備進(jìn)行準(zhǔn)確故障診斷成為可能,并對(duì)其發(fā)展進(jìn)行了探討和展望.

作 者： 安治永 李應(yīng)紅 蘇長(zhǎng)兵 AN Zhi-yong LI Ying-hong SU Chang-bing   作者單位： 空軍工程大學(xué)工程學(xué)院一系,西安,710038  刊 名： 電光與控制  ISTIC PKU 英文刊名： ELECTRONICS OPTICS & CONTROL  年，卷(期)： 2006 13(3)  分類號(hào)： V243  關(guān)鍵詞： 可測(cè)性設(shè)計(jì)   內(nèi)建自測(cè)試   故障診斷   神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)   信息融合   復(fù)雜電子系統(tǒng)   非線性  

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