航天電子元器件環(huán)境應(yīng)力篩選探究

環(huán)境應(yīng)力篩選是電子產(chǎn)品使用最廣、最有效的一種可靠性試驗方法.本文探討了某航天電子元器件在環(huán)境應(yīng)力篩選過程中存在的主要問題及其解決方法.包括環(huán)境應(yīng)力篩選的實施原則,篩選項目的確定,失效元器件分析情況及失效元器件的處理等問題.

作 者： 劉芳   作者單位： 上海航天技術(shù)基礎(chǔ)所,上海,201109  刊 名： 現(xiàn)代企業(yè)教育  英文刊名： MODERN ENTERPRISE EDUCATION  年，卷(期)： 2009 ""(4)  分類號： V4  關(guān)鍵詞： 電子元器件   環(huán)境應(yīng)力篩選   探究  

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