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推掃成像遙感衛(wèi)星圖像定位精度分析與設(shè)計
分析了影響推掃成像遙感衛(wèi)星圖像定位精度的各種誤差源,給出了一種圖像定位精度的分析和設(shè)計方法,分析了側(cè)擺成像條件下高程和目標(biāo)斜距的不確定性對圖像定位精度的影響.
作 者: 張伍 陸春玲 ZHANG Wu LU Chunling 作者單位: 張伍,ZHANG Wu(北京空間飛行器總體設(shè)計部,北京,100094)陸春玲,LU Chunling(航天東方紅衛(wèi)星有限公司,北京,100094)
刊 名: 航天器工程 ISTIC 英文刊名: SPACECRAFT ENGINEERING 年,卷(期): 2007 16(2) 分類號: V443.5 關(guān)鍵詞: 遙感衛(wèi)星 圖像定位精度 分析【推掃成像遙感衛(wèi)星圖像定位精度分析與設(shè)計】相關(guān)文章:
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