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線性近似算法在介損測量中的應(yīng)用
輸變電系統(tǒng)中的容性設(shè)備的介質(zhì)損耗測量是整個(gè)輸變電系統(tǒng)絕緣監(jiān)測的一個(gè)重要組成部分,其相關(guān)技術(shù)也在飛速發(fā)展,檢測方法和原理有多種,比如過零時(shí)差比較、過零電壓比較、利用FFT(快速傅利葉變換)進(jìn)行信號(hào)分析、小波形信號(hào)分析等等。由于FFT和小波形信號(hào)分析在介損測量中的應(yīng)用技術(shù)還不成熟,現(xiàn)場的實(shí)測數(shù)據(jù)也不理想。過零時(shí)差比較的方法是最早應(yīng)用在介損測量中的,在前端信號(hào)濾波效果很好的情況下,可以達(dá)到很高的精度和很高的分辨率。但由于電網(wǎng)中高次諧波、器件的溫漂等因素的影響,實(shí)測數(shù)據(jù)的誤差有時(shí)相當(dāng)大,目前過零時(shí)差比較的相位檢測精度一般只能達(dá)到2ˊ。實(shí)驗(yàn)表明,實(shí)測的過零時(shí)差原始數(shù)據(jù)和容性設(shè)備介損的tgδ值并不嚴(yán)格成線性關(guān)系。能不能通過改進(jìn)軟件算法提高過零時(shí)差比較的相位檢測精度呢?實(shí)踐證明,合理的算法確實(shí)對(duì)提高過零時(shí)差比較的相位檢測精度有很大的幫助,實(shí)測數(shù)據(jù)接近西林電橋的檢測精度。對(duì)前端模擬信號(hào)利用模擬加數(shù)字相結(jié)合進(jìn)行濾波,加之合理的軟件算法,在實(shí)際應(yīng)用中收到了良好的效果。
整個(gè)系統(tǒng)的前端信號(hào)采樣部分如下:
向量圖如下
電力系統(tǒng)的容性設(shè)備在正常工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生一定的泄露電流, 泄露電流中包含容性分量Ic和阻性分量Ir,容性分量對(duì)設(shè)備的安全運(yùn)行不會(huì)產(chǎn)生危害,阻性分量產(chǎn)生有功功率,表現(xiàn)為設(shè)備發(fā)熱,達(dá)到一定程度將危害設(shè)備的安全運(yùn)行。Ir的大小是由容性設(shè)備的介質(zhì)損耗即tgδ決定的,因此動(dòng)態(tài)地監(jiān)測介質(zhì)損耗的變化是保障電力系統(tǒng)安全運(yùn)行的一項(xiàng)重要措施。
由于過零時(shí)差比較檢測的原始數(shù)據(jù)和設(shè)備的實(shí)際介損值不成線性,可以嘗試用線性化近似代替,線性近似算法依據(jù)以下原理:
用CPLD器件EPM7160構(gòu)建24位計(jì)數(shù)器,以下VHDL代碼從略,外部時(shí)鐘選10M,最大計(jì)時(shí)間T=167.8ms,一個(gè)工頻周期為20ms,有充足的余量保證在一個(gè)工頻周期內(nèi)完成采樣而計(jì)數(shù)器不回零,這樣可以減少M(fèi)CU的軟件開銷,相位分辨率接近0.1`,完全可滿足要求。一個(gè)完整的采樣周期是這樣的:CT信號(hào)經(jīng)由負(fù)變正過零觸發(fā),此時(shí)的上升沿將時(shí)間捕捉,接著PT信號(hào)經(jīng)由負(fù)變正過零觸發(fā),此時(shí)的上升沿將時(shí)間捕捉,然后停止計(jì)數(shù)器并發(fā)出中斷請(qǐng)求信號(hào),MCU讀取時(shí)間值并計(jì)算時(shí)間差,連續(xù)采樣50次,取平均值。
假定介損處于上圖中n1點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為90000(δ=10度),n2點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為60000(δ=50度),n3點(diǎn)時(shí)的相位時(shí)差為30000(δ=80度),理想情況下電流超前電壓90度時(shí)相位時(shí)差為100000,即δ=0。在角度很小的情況下,介損tgδ值約等于弧度值。n1點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100(%)=17.63。n2點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100(%)=119.18,n3點(diǎn)的實(shí)際介損tgδ*100(%)=567.13。以下給出此功能函數(shù)的C51源程序:
extern unsigned long int phase_data; file://相位時(shí)差采樣原始數(shù)據(jù)
extern float true_value; file://實(shí)際介損值
extern bit over_flag; &n
[1] [2]
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